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Guckenberger, R.: Resolution assessment. In: Procedures in Scanning Probe Microscopies, S. 44 - 49 (Hg. J.P., R.J. C.; Engel, A.; Frommer, J.; Gaub, H.E.; Gerwirth, A.A. et al.). John Wiley & Sons, Chichester-New York (1998)
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Guckenberger, R.: STM-signals and imaging modes - Introduction. In: Procedures in Scanning Probe Microscopies, S. 50 - 51 (Hg. J.P., R.J. C.; Engel, A.; Frommer, J.; Gaub, H.E.; Gerwirth, A.A. et al.). John Wiley & Sons, Chichester-New York (1998)
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Guckenberger, R.: Test structures and calibrations - Introduction. In: Procedures in Scanning Probe Microscopies, S. 9 - 9 (Hg. J.P., R.J. C.; Engel, A.; Frommer, J.; Gaub, H.E.; Gerwirth, A.A. et al.). John Wiley & Sons, Chichester-New York (1998)
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Kaminski, T.; Heimann, M.; Giering, R.: A global scale inversion of the transport of CO2 based on a matrix representation of an atmospheric transport model derived by its adjoint. In: Air pollution modeling and its application XII, Bd. 22, S. 247 - 255 (Hg. Gryning, S.-E.; Chaumerliac, N.). Springer US, New York, USA (1998)
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Knapp, H.F.; Guckenberger, R.: Tips - Introduction. In: Procedures in Scanning Probe Microscopies, S. 65 - 66 (Hg. J.P., R.J. C.; Engel, A.; Frommer, J.; Gaub, H.E.; Gerwirth, A.A. et al.). John Wiley & Sons, Chichester-New York (1998)
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Knopf, M.; Schneider, W.: Die Entwicklung des kindlichen Denkens und die Verbesserung der Lern- und Gedächtniskompetenzen. In: Entwicklung im Kindesalter, S. 75 - 94 (Hg. Weinert, F. E.). Psychologie Verlags Union, Weinheim (1998)
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